經常會發生電暈放電的部位包括:
a. 高壓導體之粗糙表面或終端銳角區域。
b. 高壓絕緣層之內部缺陷(如內部氣隙)與表面污染區。
c. 高壓套管(bushing)或導體終端(live ends)絕緣處理不良處。
d. 高壓導線斷股或終端未作處理區域。
e. 間隔片(spacers)與阻尼器(dampers)。
電暈放電之不良影響
產生離子衝擊(ion bombardment)效應,加速破壞電力設備之構成材質。
產生臭氧(ozone)、氮氧化物(oxides of nitrogen)及硝酸(nitric
acid)等;該化學物質會加速絕緣老化,並使銅金屬表面氧化影響接觸面之導電效果。
電暈現象導因於氣體分子的電離化(ionizing),發生於電力場或靜電場(electric
or electrostatic field)較高的區域,這些高電場的形成,主要導因於設計不良、施工不良,或運轉時來自於環境的污染沉積物質。在電離化的過程中,氣體分子會持續地獲得並釋放能量,其釋放能量的同時並會產生光波及聲波。CoroCAM即是針
對電暈放電產生的光波進行感測。
CoroCAM的系列產品即是針對紫外光頻譜進行偵測,以發現電暈放電問題,在沒有太陽光的干擾下(室內或晚間),CoroCAM各型號產品均功能顯著;至於在有太陽光干擾的環境下(晴天),CoroCAM
II / IV / IV+ 三款機型內含特殊的濾波技術,可針對太陽盲光(solar-blind)波段進行感測,使電暈放電檢測工作不必受強烈陽光之限制。